Microscopio de fuerza atomica 100 veces mas rapido.
Investigadores del Georgia Tech han creado un nuevo tipo de microscopio de fuerza atomica(AFM) denominado FIRAT (Force sensing Integrated Readout and Active Tip). El mismo tiene la capacidad de generar imagenes 100 veces mas rapido que los AFM convencionales, tambien puede medir varios parametros simultaneamente tal como topografia, energia de adhesion, tiempo de contactoy dureza. Se espera que esto permitira avances en el estudio de fenomenos que ocurren rapido tales como las interacciones de biomoleculas.
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